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关于我们

‍合肥重光电子科技有限公司是一家专业从事仪器设备的生产商。针对国家大力扶持的太阳能电池和半导体等科技领域。我司有专业的检测仪器和工艺实验设备,能够满足不同客户的打样和定制化需求。同时我司与中国科学技术大学微纳加工平台、合肥工业大学微纳加工平台保持技术上的交流,能有效帮助客户解决工艺问题。我司提供产品的定制化代工业务,满足客户对自营品牌的需求,让客户从而实现资产轻量化运营。‍‍我司产品优势:提供定制化服务,满足客户多样化需求,从而为客户节约更多科研经费。其中低速匀胶平稳,结束低粘度光阻匀胶依赖进口品牌。
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PRODUCT CENTER

产品中心

Technical Articles

技术文章

  • 2026-98
    半导体设备原理:它们如何把设计图“刻”进硅片?

    半导体制造是复杂的制造工艺——在一块直径仅300mm的硅片上,要制造出上百亿个晶体管,每个晶体管的尺寸已经进入了纳米级别。支撑这一制造过程的是一整套精密的半导体设备,它们各司其职,从光刻、刻蚀、沉积到离子注入,在硅片上逐步“雕刻”出设计好的电路图案。理解这些设备的原理,有助于认识半导体制程的基本逻辑,以及在设备选型和工艺优化中做出更合理的判断。光刻设备:把图案“印”在硅片上光刻设备的核心原理类似于照相——利用光将掩膜版上的电路图案转移到涂有感光材料的硅片上。光源发出的紫外光穿...

  • 2026-98
    光学反射膜厚仪的特点及工作流程简要介绍

    光学反射膜厚仪是一款基于光学干涉、反射原理的非接触式无损薄膜厚度测量设备,广泛应用于半导体、光学镀膜、柔性电子等精密领域。检测过程无需与样品表面接触,无挤压、划痕、污染等风险,不会损伤超薄涂层、柔性薄膜、精密光学元件等易碎、易变形样品。同时无需对样品进行切割、打磨、染色等预处理,可直接完成原位检测,大的保留样品完整性,适配成品抽检、流水线全检等多种场景。依托光谱干涉细分技术与智能算法优化,设备检测精度可达0.02nm,能够精准识别纳米级薄膜厚度差异,测量重复性与稳定性强。检测...

  • 2026-93
    黄光区设备使用指南:在黄光下操作,习惯与精度同等重要

    在半导体和微纳加工实验室中,“黄光区”是一个特殊的存在——这里的照明灯全部发出黄色或橙色的光,如同笼罩在暗房般的氛围中。黄光区设备包括匀胶机、热板、显影机、光刻机、烘箱等用于光刻工艺的设备,共同配合完成从基片涂胶、前烘、曝光到显影的完整流程。黄光区的核心目的是保护光刻胶——大多数光刻胶对蓝紫光和紫外光敏感,普通白光中的短波长成分足以使光刻胶提前曝光,导致图形失真。因此操作黄光区设备,首先需要适应这个“黄光环境”,更重要的是要建立起一套适合这个特殊区域的操作习惯。进入黄光区之前...

  • 2026-815
    全自动去胶机:助力精密制程中光刻胶高效去除的自动化设备

    在半导体芯片制造、LED芯片制程、MEMS加工以及先进封装领域,光刻胶作为图形转移的关键材料,在完成刻蚀或离子注入等工艺步骤后,需要从基片表面清除,以确保后续薄膜沉积或电学接触的质量。全自动去胶机专为满足这一需求而设计,通过化学溶剂浸泡、喷淋、兆声波清洗或等离子体灰化等技术组合,有效去除基片表面的光刻胶残留,并为晶圆、玻璃基板或其他衬底材料提供清洁的表面状态。该设备以自动化运行为主要特征,适合批量处理场景,有助于提升制程的一致性和生产效率。工作原理与工艺流程全自动去胶机的基本...

  • 2026-812
    膜厚测量仪:支持薄膜工艺监控与品质判定的客观依据

    在半导体、光学镀膜、平板显示、新能源电池以及表面工程等领域,薄膜厚度是决定产品功能和性能的关键几何参数之一。无论是仅数纳米的栅氧化层,还是数微米的光学增透膜,厚度偏差都可能导致器件电学性能漂移、光学特性偏移或机械可靠性下降。膜厚测量仪通过光学、机械或电学等非破坏性或破坏性测量原理,为各类薄膜提供定量化的厚度数据,帮助工艺人员监控沉积或生长过程的稳定性,并为产品质量判定提供客观依据。常见测量原理与技术路径膜厚测量依据薄膜材料性质、厚度范围和应用场景的不同,衍生出多种测量方法。光...

  • 2026-87
    实验室无掩膜曝光机的工作逻辑你了解多少呢

    实验室无掩膜曝光机是面向科研场景的数字化光刻设备,无需传统光掩模版即可直接将数字图案投射到基底上完成曝光,是微纳加工、半导体实验室的核心研发设备。设备支持多种图形格式导入,可实现任意复杂图形的曝光,包括定制化微结构、阵列图形、渐变图形等,无需受掩模版固定图形的限制。同时,支持在线编辑图形参数,可快速调整线宽、间距、曝光剂量等,适配半导体器件、生物芯片、微光学元件、柔性电子等多领域的科研需求。实验室无掩膜曝光机搭配高精度光学系统与运动平台,可以满足大部分微纳科研场景的精度要求。...

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